UV-B型紫外辐照计执行企业标准Q/HDSDY0003－2014。采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

一、产品说明：

我厂生产的UV-B型紫外辐照计执行企业标准Q/HDSDY0003－2014。采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

二、技术参数：

1、辐照度测量范围：(0.1～199.9×103) μW/cm2

2、相对示值误差：±8％（相对于NIM标准）

3、波长范围λ1，峰值波长λp ：（230～275）nm，λP＝254nm

4、波长范围λ2，峰值波长λp ：（275～330）nm，λP＝297nm

5、紫外带外区杂光：UV254<0.1%，UV297<0.05%    

6、角度响应特性：±5% （α≤10°）  

7、线性误差：±1%  

8、换档误差：±1%  

9、短期不稳定性：±1%（开机30min后）  

10、疲劳特性：衰减量<2%  

11、零值误差：满量程的±1%  

12、响应时间：<1秒  

13、使用环境：温度(0~40)℃；湿度＜85％RH  

14、尺寸和重量：160×78×43mm；0.2kg  

15、电源：6F22型9V积层电池（非充电电池）  

16、整机功耗：＜0.1VA