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JB4040 β、γ表面污染检测仪

更新时间:2024-07-31

简要描述:

一、产品说明:JB4040型β、γ检测仪,适用于低水平β、γ辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测

厂商性质:生产厂家浏览量:153

一、产品说明:

       JB4040型β、γ检测仪,适用于低水平β、γ辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行β辐射表面污染检测或X,γ辐射防护监测的理想仪器,该仪器采用单片机控制,LCD液晶显示,读数清晰、操作方便。

二、产品特点:

1、GM探测器阵列,探测效率高

2、便携式设计,重量轻

3、单片机控制,软件功能强

4、LCD液晶显示,会话式操作界面

5、计数率显示CPM、CPS、μSv/h

6、电池失效报警 

三、技术参数:

1、计数范围:1~106    

2、探测器面积:25cm2

3、  度:≥500 CPM/μSv/h

4、剂量率范围:0.01~200.00µSv/h

5、仪器本底:每分钟计数≤130 CPM

6、相对误差:测量范围内相对基本误差≤20%

7、供电电源:2节1.5v普通5号电池,整机电流≤50mA

8、温度范围:-10℃~45℃

9、湿度范围:相对湿度≤90%(40℃)

10、尺寸:23×13×4.5(cm)

11、重量:0.64kg


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